6. Fraunhofer Vision-Technologietag: Innovative Technologien für die industrielle Qualitätssicherung mit Bildverarbeitung

Fraunhofer Allianz Vision

Der nächste Technologietag findet statt am:

17. und 18. Oktober 2012 am Fraunhofer IOF in Jena

Innovative Technologien für die industrielle Qualitätssicherung mit Bildverarbeitung

Die Fraunhofer-Allianz Vision veranstaltet am 17. und 18. Oktober 2012 am Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF in Jena ihren nächsten Technologietag. Unter dem Motto »Innovative Technologien für die industrielle Qualitätssicherung mit Bildverarbeitung« bietet das Format des Technologietags einen breiten Überblick über praxisrelevante Technologien der Bildverarbeitung und optischen Messtechnik.

Motivation

Der Fraunhofer Vision-Technologietag bietet einen breiten Überblick über das Spektrum praxisrelevanter Technologien der Bildverarbeitung und optischen Messtechnik und reflektiert den aktuellen Stand der Technik. Daneben werden realisierte Anwendungen beschrieben und sich abzeichnende Zukunftsper­spektiven aufgezeigt.

Zielgruppen

Der Technologietag richtet sich an Interessenten am Thema Bildverarbeitung nahezu aller Branchen, die Informationen zum praktischen Einsatz dieser Technologien in industrieller Umgebung suchen und ebenso an Vertreter im Umfeld von Forschung und Entwicklung. Die begleitende Fachausstellung ist ein gefragtes Forum, um den Dialog mit den Experten zu vertiefen und für den Aufbau neuer Kooperationen.

Informationsangebote

  • Kurzvorträge
  • Begleitende Fachausstellung
  • Erfahrungsaustausch mit den Experten

Themen und Technologien

  • Technologien zur Prüfung des Materialinneren

    wie Röntgen, Wärmefluss-Thermographie, Terahertz, Hochfrequenztechnik oder Shearographie
    • Röntgen-Computertomographie und Mikroskopie; Messen mit Röntgen; Computerlaminographie
    • Analyse der Geometrie komplexer Mikrostrukturen
    • Wärmefluss-Thermographie zur Detektion verborgener Fehlstellen
    • Terahertz-Messtechnik für die Qualitätssicherung
    • kombinierte Thermographie und Shearographie zur Prüfung von Werkstoffverbünden
    • Spannungsmessung in transparenten Materialien
    • Spectral Imaging im Nahen Infrarot
  • Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen

    Strukturierte, texturierte, (teil-) spiegelnde, glänzende, farbige Oberflächen; Mikro- und Nanostrukturen; Rauheitsbewertung; Weißlicht-Interferometrie; Fokusvariation; Polarisationskamera
  • Optische 3-D-Messtechnik

    Dimensionelle 3-D-Messtechnik; fertigungsintegrierte Systeme; mobile 3-D-Sensorik; High Speed und hochdynamische 3-D-Messtechnik; Multi-Apertur-Abbildungssysteme; modellbasierte Inspektion

Organisatorisches

Veranstaltungsort

Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF
Albert-Einstein-Str. 7
07745 Jena

Leitung

Dipl.-Ing. Michael Sackewitz
Fraunhofer-Allianz Vision
Am Wolfsmantel 33
91058 Erlangen
Telefon: +49 9131 776-5800
Fax: +49 9131 776-5899
E-Mail: vision@fraunhofer.de

Organisation

Ulrike Persch
Fraunhofer-Allianz Vision
Am Wolfsmantel 33
91058 Erlangen
Telefon: +49 9131 776-5800
Fax: +49 9131 776-5899
E-Mail: vision@fraunhofer.de

Teilnahmegebühr

480 EUR
Bitte bezahlen Sie nach Rechnungserhalt.

Leistungsumfang

  • Tagungsunterlagen
  • Verpflegung (Getränke, Mittags- und Abendimbiss)

Anmeldung

Sie erhalten dann Anmeldebestätigung, Rechnung, Zufahrtsbeschreibung und Hotelliste.

Förderung beruflicher Weiterbildung

Die Anerkennung von Bildungsschecks aus NRW ist möglich.

Rücktritt

Rücktritt von der Teilnahme ist bis 2 Wochen vorher möglich. Bei späterem Rücktritt wird die Teilnahmegebühr in Rechnung gestellt. Die Teilnahme eines Stellvertreters ist möglich.

Stornierung

Die Tagungsleitung behält sich in dringenden Ausnahmefällen eine Änderung des Programms und/oder von Referenten vor. Im Fall einer Stornierung aus unvorhersehbaren Gründen werden die Teilnehmer umgehend benachrichtigt und bereits gezahlte Teilnahmegebühren erstattet. Weiterer Anspruch auf Schadensersatz bzw. Ersatz entstandener Auslagen betsteht nicht.

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Veranstaltungsdatum:

vom 17.10.2012 bis zum 18.10.2012
am Fraunhofer IOF in Jena

Aktualisierungsdatum

22.06.2012