Fraunhofer Vision-Technologietag 2012 Programm

Fraunhofer-Allianz Vision

17. und 18. Oktober 2012 am Fraunhofer IOF in Jena

Programm Mittwoch, 17. Oktober 2012

ab 12:30 Ankunft mit Imbiss
Besichtigung der Ausstellung
   
13:30 Eröffnung
Begrüßung und thematische Einführung
Dipl.-Ing. Michael Sackewitz, Fraunhofer-Allianz Vision, Erlangen

Messen und Prüfen im Materialinneren

13:50 Röntgen-Mikroskopie zur Charakterisierung moderner Hightech-Materialien
Prof. Dr. Randolf Hanke, Fraunhofer EZRT, Fürth
14:10 Röntgentechnik von 2-D-in-Motion bis 4-D-Computertomographie
Dipl.-Ing. Markus Eberhorn, Fraunhofer IIS, Fürth
14:30 Computerlaminographie zur zerstörungsfreien und hochauflösenden Prüfung großer, flächiger Bauteile
Dr. Felix Porsch, Fraunhofer EZRT, Saarbrücken
14:50 3-D-Bildanalyse der Mikrostruktur komplexer Materialien
Dr. Katja Schladitz, Fraunhofer ITWM, Kaiserslautern
   
15:10 Kaffeepause
Besichtigung der Ausstellung
   
15:50 Lock-In-Thermographie mit Lichtanregung zur Prüfung von Werkstücken auf Lunker, Risse oder Schichtablösungen
Dr. Guido Mahler, InfraTec GmbH, Dresden
16:10 Kombinierter Einsatz von digitaler Shearographie und aktiver Thermographie zur Defektdetektion bei Werkstoffverbünden
Wolfgang Schmidt, Fraunhofer IPA, Stuttgart
16:30 Terahertz-Messtechnik zur Inspektion von GFK-Teilen auf verborgene Fehlstellen
Dr. Joachim Jonuscheit, Fraunhofer IPM, Kaiserslautern
16:50 Abbildende Hochfrequenzsensoren zur Detektion optisch nicht sichtbarer Fehler
Dipl.-Ing. Dirk Nüssler, Fraunhofer FHR, Wachtberg
17:10 Spannungsmessung in transparenten Materialien
Prof. Dr. Thomas Längle, Fraunhofer IOSB, Karlsruhe
   
17:30 Get-together mit Imbiss
Besichtung der Ausstellung

Programm Donnerstag, 18. Oktober 2012

ab 8:30 Ankunft
Besichtigung der Ausstellung
   
9:00 Thematische Einführung
Dipl.-Ing. Michael Sackewitz, Fraunhofer-Allianz Vision, Erlangen

Oberflächenprüfung und 3-D-Vermessen

9:10 Spectral Imaging im Nahen Infrarot zur Erkennung »unsichtbarer« Oberflächen-Eigenschaften
Dr. Jochen Aderhold, Fraunhofer WKI, Braunschweig
9:30 Industrietaugliche Polarisationskamera mit nanostrukturiertem Bildsensor
Dipl.-Ing. Jürgen Ernst, Fraunhofer IIS, Erlangen
9:50 Multi-Apertur-Abbildungssysteme zur Miniaturisierung abbildender Optiken
Dr. Frank Wippermann, Fraunhofer IOF, Jena
10:10 Fehlerdetektion in texturierten Oberflächen im praktischen Einsatz
Dr. Ronald Rösch, Fraunhofer ITWM, Kaiserslautern
   
10:30 Kaffeepause
Besichtigung der Ausstellung
   
11:10 Deflektometrie zur Bewertung von Defekten auf (teil-) spiegelnden Oberflächen
Dr. Michael Heizmann, Fraunhofer IOSB, Karlsruhe
11:30 Kombinierte Detektion von Oberflächen- und 3-D-Merkmalen in einem System
Dr. Heinz Mayer, JOANNEUM RESEARCH Forschungsgesellschaft mbH – DIGITAL, Graz
11:50 Schnelle Inline-Oberflächenprüfung und 3-D-Defekterkennung
Dr. Daniel Carl, Fraunhofer IPM, Freiburg
12:10 Streulichtverfahren zur Rauheitsbewertung von Oberflächen
Dr. Angela Duparré, Fraunhofer IOF, Jena
12:30 Schnelle Rauheitsmesstechnik zur automatisierten 100-Prozent-Prüfung in Serienprozessen
Dr. Stephan Bichmann, Fraunhofer IPT, Aachen
   
12:50 Mittagspause
Besichtigung der Ausstellung
   
13:50 Weißlichtinterferometrie zur Messung großflächiger Topographien
Dipl.-Ing. Benjamin Erler, Polytec GmbH, Waldbronn
14:10 Fokus-Variation zur optischen 3-D-Messung für die prozessoptimierte integrierte Fertigung
Dr. Stefan Scherer, Alicona Imaging GmbH, Raaba/Graz
14:30 Richtiges optisches dimensionelles Messen für die prozessintegrierte Messung
Dipl.-Ing. Erik Trostmann, Fraunhofer IFF, Magdeburg
14:50 Hochdynamische optische 3-D-Messtechnik
Dr. Gunther Notni, Fraunhofer IOF, Jena
15:10 Erfassung und Registrierung beliebiger multi-perspektivischer 3-D-Aufnahmen und unterschiedlicher Bild-Datenquellen
Rainer Schütze M.Sc., i3mainz, Mainz
15:30 Soll-/Ist-Vergleich mit synthetischen Messdaten im Rahmen der modellbasierten optischen Inspektion
Dipl.-Inform. Steffen Sauer, Fraunhofer IFF, Magdeburg
15:50 Get-together
Besichtigung der Ausstellung
16:30 Veranstaltungsende

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Aktualisierungsdatum

22.06.2012