Multispektrale und 3D-Inspektionssysteme zur optischen Qualitätssicherung

© Foto EyeSpec GmbH

Innovative Ansätze für Bilderfassungssysteme

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Bilderfassungssystem im Produktionsprozess

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3D-Darstellung einer Bauteilprüfung

Die industrielle Bildverarbeitung erfährt seit mehreren Jahren eine Verlagerung in Bereiche und Aufgabenstellungen, die in ihrer Komplexität mehr und mehr zunehmen. Daraus resultieren speziell im Bereich der Bilderfassungssysteme neuartige Herausforderungen in der Kontrastierung der zu detektierenden oder zu bewertenden Merkmale. Systeme zur Generierung von multispektralen sowie dreidimensionalen Bildern halten somit immer mehr Einzug in die industrielle Bildverarbeitung.

Die Firma EyeSpec GmbH aus Heide hat sich daher auf die Entwicklung spektral selektiver Inspektionssysteme zur optischen Qualitätskontrolle spezialisiert und stellt neben dem multispektralen Inspektionssystem »MultiSpec« auch 3D-Lösungen vor.

Im Gegensatz zur Erzeugung des multispektralen Merkmalsraums mittels spezieller Bildsensoren nutzen die Systeme die spektral optimierten Informationen aus vorab bestimmten, produktspezifischen Spektralcharakteristiken, um die Bilderfassungskomponenten für die entsprechenden Aufgaben zu optimieren. Je nach Aufgabenstellung können die Spektralcharakteristiken auf verschiedene Art und Weise genutzt werden: Durch die spezielle Auswahl der Wellenlängen, von UV bis SWIR oder auch mit arithmetischer Verknüpfung unterschiedlicher Spektralbereiche, kann sowohl die Prozesssicherheit als auch der Prüfumfang der Qualitätskontrolle erhöht werden.

Während sich »MultiSpec« durch die parallele Auswertung der multispektralen Daten auszeichnet und sich dadurch insbesondere für komplexe Anwendungen in der Oberflächen-, Druck- und Materialprüfung eignet, ergänzen die angebotenen 3D-Inspektionssysteme diese durch die zusätzliche Verwendung von mikrometer-genauen Höheninformationen.

Typische Aufgabenstellungen sind z. B. die Prüfung auf Beulen und Dellen, die Detektion von Oberflächenkratzern, die Kontrolle auf Unregelmäßigkeiten oder Höhen-, Kontur- und Ebenheitsvermessungen.