Weißlichtinterferometer zur schnellen, genauen und berührungslosen Messung technischer Oberflächen

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Verschiedene Weißlichtinterferometer zur schnellen, genauen und berührungslosen Messung technischer Oberflächen

Der Bedarf an berührungsloser Oberflächenmesstechnik steigt immer mehr und geht quer durch alle Branchen. Gerade in der industriellen Fertigung muss häufig die Einhaltung gegebener Toleranzen kontrolliert werden. Das hilft, die Funktion sicherzustellen und mangelhafte Teile vor jedem Weiterverarbeitungsschritt auszusortieren und damit unnötige Kosten zu vermeiden.

Die Polytec GmbH aus Waldbronn zeigt mit »TopMap Pro.Surf+« ein neues System zur schnellen und berührungslosen Detektion von Formabweichungen auf Basis der Weißlichtinterferometrie zur berührungslosen Messung von Ebenheiten, Höhenabständen und Parallelitäten großer Flächen und Strukturen technischer Oberflächen. Das neue System ist mit einem integrierten, lateral hochauflösenden, chromatisch-konfokalen Sensor ausgestattet, um neben der Formabweichung auch die Rauheit mit nur einem Messgerät ermitteln zu können. Es erfasst binnen weniger Sekunden selbst ohne Stitching 2 Millionen Messpunkte auf einer Messfläche von 43 mm x 32 mm (erweiterbar bis zu einer Flächengröße von 230 mm x 220 mm). Dank des großen Höhenmessbereichs in Kombination mit einer telezentrischen Optik können auch schwer zugängliche Bereiche in Bohrungen und Vertiefungen vermessen werden.

Die Weißlichtinterferometrie ist ein sehr genaues Verfahren. Darüber hinaus ist die Messung mit einer typischen Aufnahmezeit von wenigen Sekunden im Vergleich zu konventionellen taktilen Verfahren relativ schnell. Die vorgestellten Systeme sind für raue, glatte oder auch stufige Oberflächen geeignet und werden sowohl im Messlabor, in produktionsnahen Bereichen oder direkt in der Fertigungslinie eingesetzt. Typische Anwendungsfelder finden sich z. B. bei Automotive-Produkten, Halbleitern, medizinischen Produkten und Konsumartikeln.

Dank des großen vertikalen Verfahrwegs und ihrer Auflösung im Nanometerbereich sind die Weißlichtinterferometrie-Systeme zur rückwirkungsfreien Messung von Ebenheiten, Höhenabständen, Parallelitäten großer Flächen und Strukturen bei fast allen Materialien geeignet.

Auf der Control werden verschiedene Weißlichtinterferometer zu sehen sein: von der kompakten Messstation (»TopMap Metro.Lab«), einer Mikroskopvariante (»TopMap µ.Lab«), einer schnellen und in Fertigungslinien integrierbaren Lösung (»TopMap In.Line«) bis hin zu großflächig messenden Systemen (»TopMap Pro.Surf«), die auch Formabweichungen und die Rauheit mit einem Messkopf ermitteln können (»TopMap Pro.Surf+«).

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System zur schnellen und zuverlässigen Messung auch großer Strukturen mit einem Bildfeld von 230 mm x 220 mm