Infrarot-Detektoren zur Qualitätskontrolle

Rasterelektronenmikroskopaufnahme eines Vier-Quadranten- und eines runden LWIR-Detektors
© Fraunhofer IAF

Rasterelektronenmikroskopaufnahme eines Vier-Quadranten- und eines runden LWIR-Detektors

In der Forschung und Industrie werden Infrarot- und Raman-Spektrometer zur Materialanalyse und Qualitätskontrolle in hohem Maße eingesetzt. Hochsensitive IR-Detektoren stellen die Kernkomponente solcher Messsysteme dar. Insbesondere für den langwelligen Bereich bei 8 – 12 µm, in welchem eine Vielzahl chemischer Fingerabdrücke liegt, sind die flexibel auslegbaren InAs/GaSb-Übergitter-Photodioden des Fraunhofer IAF eine Alternative zu CdHgTe-Detektoren mit vergleichbarer Leistungsfähigkeit.

Eigenschaften

  • Obere Detektionsgrenze von 3 – 12 µm einstellbar
  • Hohe Quanteneffizienz und Detektivität vergleichbar mit CdHgTe-Detektoren
  • Geometrie, Größe und Anordnung der Detektorelemente flexibel an die Applikation anpassbar, z.B. Einzel- und Vier-Quadranten-Detektoren, Detektorzeilen

Anwendungen

  • Infrarot- und Raman-Spektroskopie zur Analyse von gasförmigen, flüssigen und festen Substanzen
  • Absorptive Messverfahren zur Konzentrationsbestimmung
  • Polarisationssensitive Detektion