Vollautomatischer Partikelscanner zur Analyse der Technischen Sauberkeit sowie universelles SEM-EDX Mikroskop im kompakten Tischformat

Die RJL Micro & Analytic GmbH aus Karlsdorf-Neuthard stellt mit dem System »MicroQuick« einen vollautomatischen Partikelscanner zur Analyse der »technischen Sauberkeit« vor, der konform zu den Richtlinien VDA 19.1 und ISO 16232 arbeitet. Das System misst innerhalb weniger Minuten die Anzahl, Größe, Form und Reflexion von Restschmutzpartikeln und findet vor allem in der Automobil- und Pharmaindustrie Anwendung. Des Weiteren zeigt die RJL Micro & Analytic GmbH ein universelles SEM-EDX-Mikroskop im kompakten Tischformat. Dieses wird in den Bereichen Materialanalysen, Qualitätssicherung, Prozessüberwachung oder Strukturuntersuchungen eingesetzt und liefert selbst bei 150.000-facher Vergrößerung scharfe Bilder bei einer Auflösung von 5 nm.

MicroQuick Partikelscanner

Mit der wachsenden Komplexität und Miniaturisierung vieler technischer Produkte erhält das Thema »technische Sauberkeit« ein immer breiteres Applikationsspektrum. Winzige Partikel und Fasern können die Funktionalität essentieller Komponenten beeinträchtigen und beispielsweise Lager verklemmen, Ventile blockieren, Düsenöffnungen verstopfen oder an elektronischen Bauteilen Kurzschlüsse verursachen (metallische Partikel).

Ein Vorreiter in dieser Thematik ist die deutsche Automobilindustrie, die mit der VDA 19.1 (internationales Äquivalent ISO 16232) einen Leitfaden zur repräsentativen Beurteilung des Restschmutzes auf Bauteilen entwickelt hat. Als Standardverfahren sieht diese Richtlinie neben einer gravimetrischen Analyse zur Bestimmung des Restschmutzgewichts auch eine granulometrische Analyse zur Bestimmung der Partikelanzahl und -größe > 50 µm vor.

Neben dem klassischen Lichtmikroskop empfiehlt die VDA 19.1 eine Bildgebung mittels Scanner. Scanner liefern mit einer Auflösung von 4800 DPI eine vergleichbare Pixelgröße (ca. 5 µm) und sind meist kostengünstiger in der Anschaffung und leichter in der Bedienung als Lichtmikroskope. Neben dem Einsatz im Sauberkeitslabor werden Partikelscanner häufig auch produktionsbegleitend eingesetzt.

Partikelscanner zur Sauberkeits-Analyse
© RJL Micro & Analytic GmbH
Vollautomatischer Partikelscanner zur Analyse der Technischen Sauberkeit.

Coxem SEM-EDX-Tischgerät

Die Lücke zwischen Lichtmikroskopen und großen Raster-Elektronenmikroskopen (SEM, »Scanning Electron Microscope«) ist längst durch eine neue Generation von SEM-Geräten geschlossen worden. Neueste Systeme sind kleiner, schneller, wirtschaftlicher und darüber hinaus im Tischformat erhältlich. Die benutzerfreundliche Bedienung ermöglicht den Einsatz auch außerhalb von spezialisierten Forschungslabors.

Bildgebungstechnisch bieten diese kompakten SEM-Systeme eine variable Oberflächenabbildung mittels Sekundärelektronen (SE) für Topographie-Kontrast und/oder Rückstreuelektronen (BE) für Material-Kontrast. Weitere Detektortypen (z. B. für energiedispersive Röntgenspektroskopie - EDX, Transmissionsmikroskopie - STEM) sowie optionale Erweiterungen (z. B. Probenkühlung, Niedervakuum, Panorama-Bildgebung, Bühnenmotorisierung, Makrokamera) sind ebenfalls verfügbar, womit die SEM-Geräte ein weitläufiges Applikationsspektrum für eine Vielzahl an unterschiedlichsten Probentypen abdecken können.

Das vorgestellte System kann mit verschiedenen Beschleunigungsspannungen (1 kV bis 30 kV in 1 kV Schritten) betrieben werden und bietet eine große Flexibilität bei Probenstabilität und EDX-Analysen. Über die variable Apertur hat der Anwender die Möglichkeit, den Probenstrahl entsprechend seiner Analysen optimal anzupassen (kleine Apertur für hochauflösende Bildgebung, große Apertur für starkes Signal bei EDX-Mappings).

Universelles SEM-EDX Mikroskop
© RJL Micro & Analytic GmbH
Universelles SEM-EDX Mikroskop für Materialanalysen, Qualitätssicherung, Prozessüberwachung und Strukturuntersuchungen.

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