Muster- und Streifenprojektionsverfahren / Hochdynamische 3D-Verfahren

Leitfaden zur optischen 3D-Messtechnik (Fraunhofer Vision Leitfaden-Reihe Band 14)

Beitrag 5: Muster- und Streifenprojektionsverfahren / Hochdynamische 3D-Verfahren

Autor: Andreas Breitbarth, Fraunhofer IOF

Prototyp eines Array-Projektionssystems mit aktivierten Einzelprojektoren
© Fraunhofer IOF

Prototyp eines Array-Projektionssystems mit aktivierten Einzelprojektoren

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Verfahren zur berührungslosen, dreidimensionalen Vermessung makroskopischer Objekte mit aktiver Musterprojektion setzen eine zeitgleiche Projektion von Musterstrukturen in den Messraum und deren Beobachtung durch Kamerasysteme voraus. Langjährige Forschung und Entwicklung in diesem Bereich hat gezeigt, dass die erzielbare Genauigkeit dieser Muster- und Streifenprojektionsverfahren direkt von der Anzahl verschiedener Projektionsmuster abhängig ist. Mit den gesteigerten Ansprüchen bezüglich der Messgenauigkeit erhöhten sich in den vergangenen Jahren auch die Ansprüche hinsichtlich der Messgeschwindigkeit, welche sowohl die simultane Musterprojektion und -aufnahme als auch die nachgelagerte Auswertung umfassen. Die Nachfrage nach geeigneten Verfahren und Systemen fokussiert sich insbesondere im Bereich dynamischer Objektvermessungen.

 

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