Muster- und Streifenprojektionsverfahren / Hochdynamische 3D-Verfahren

 

 

Leitfaden zur optischen 3D-Messtechnik (Fraunhofer Geschäftsbereich Vision Leitfaden-Reihe Band 14)

Beitrag 5: Muster- und Streifenprojektionsverfahren / Hochdynamische 3D-Verfahren

Autor: Andreas Breitbarth, Fraunhofer IOF

 

 

Prototyp eines Array-Projektionssystems mit aktivierten Einzelprojektoren
© Fraunhofer IOF
Prototyp eines Array-Projektionssystems mit aktivierten Einzelprojektoren

Verfahren zur berührungslosen, dreidimensionalen Vermessung makroskopischer Objekte mit aktiver Musterprojektion setzen eine zeitgleiche Projektion von Musterstrukturen in den Messraum und deren Beobachtung durch Kamerasysteme voraus. Langjährige Forschung und Entwicklung in diesem Bereich hat gezeigt, dass die erzielbare Genauigkeit dieser Muster- und Streifenprojektionsverfahren direkt von der Anzahl verschiedener Projektionsmuster abhängig ist. Mit den gesteigerten Ansprüchen bezüglich der Messgenauigkeit erhöhten sich in den vergangenen Jahren auch die Ansprüche hinsichtlich der Messgeschwindigkeit, welche sowohl die simultane Musterprojektion und -aufnahme als auch die nachgelagerte Auswertung umfassen. Die Nachfrage nach geeigneten Verfahren und Systemen fokussiert sich insbesondere im Bereich dynamischer Objektvermessungen.

 

Den vollständigen Beitrag können Sie im »Leitfaden zur optischen 3D-Messtechnik« nachlesen.