Inspektion strukturierter Oberflächen

Leitfaden zur Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen mit Bildverarbeitung
(Fraunhofer Vision Leitfaden-Reihe Band 16)

Beitrag 15: Inspektion strukturierter Oberflächen

Autor: Hartmut Eigenbrod, Fraunhofer IPA

 

 

Schlagstellenprüfung mit modularem Prüfprogramm
© Fraunhofer IPA
Schlagstellenprüfung mit modularem Prüfprogramm

Bestellen Sie hier den »Leitfaden zur Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen mit Bildverarbeitung«!

Der industrielle Bedarf an fehlerfreien, strukturierten Oberflächen ist vielfältig. Er umfasst technische und natürliche Oberflächen, wie z. B. lackierte Oberflächen in der Fertigung oder Furniere in der Holzverarbeitung. Die Inspektion solcher Oberflächen wird in der Regel als Bildverarbeitungssystem realisiert. Für den Anwender stellt sich dabei die Frage, worauf bei der Konzeption solcher Inspektionssysteme zu achten ist und welches die zentralen Komponenten sind. Dies wird im Folgenden anhand von Beispielen aus der industriellen Praxis veranschaulicht. Zudem wird dargestellt, dass es in verschiedenen Anwendungsfällen vorteilhaft sein kann, in Ergänzung bzw. als Ersatz zu Bildaufnahmen im sichtbaren Bereich (VIS-Bereich), Bildaufnahmen im nahen Infrarot (NIR-Bereich) heranzuziehen.

Für den Anwender ist die Leistungsfähigkeit des gesamten Inspektionssystems von hoher Relevanz. Das Gesamtsystem besteht aus verschiedenen, häufig sequentiell verknüpften Einzelkomponenten. In der Regel sind dies Bildaufnahme, Bildvorverarbeitung, Segmentierung, Merkmalsberechnung und Merkmalsklassifikation. Durch eine Verwendung von ungeeigneten Einzelkomponenten verliert man Bildinformation, die sich durch nachfolgende Komponenten entweder gar nicht oder nur mit sehr hohem Aufwand rekonstruieren lässt. Es ist daher wichtig, für eine konkrete Inspektionsaufgabe die richtigen Einzelkomponenten auszuwählen.

 

Den vollständigen Beitrag können Sie im »Leitfaden zur Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen mit Bildverarbeitung« nachlesen.