Deflektometrie

Handbuch zur industriellen Bildverarbeitung
(Fraunhofer Vision Leitfaden-Reihe Band 17)

Beitrag 2.7: Deflektometrie

Autoren: Michael Heizmann, Fraunhofer IOSB und Karlsruher Institut für Technologie, Stefan Werling, Fraunhofer IOSB und Duale Hochschule Baden-Württemberg

Deflektometrisches Messprinzip
© Fraunhofer IOSB

Deflektometrisches Messprinzip: Die Kamera beobachtet in der spiegelnden Prüfoberfläche die Reflexion eines auf dem Schirm dargestellten Musters

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Für die Inspektion von spiegelnden und teilspiegelnden Oberflächen stellt das Prinzip der Deflektometrie das geeignete Werkzeug dar. Dabei wird die spiegelnde Reflexion der Umgebung (z. B. eines Schirms) in der zu prüfenden Oberfläche aufgenommen und ausgewertet. Deflektometrische Verfahren zeichnen sich dadurch aus, dass eine extrem hohe Höhenauflösung im Bereich von deutlich unter 1 µm möglich ist, wobei für die Bilderfassung im Wesentlichen nur Standardkomponenten der automatischen Sichtprüfung, wie z. B. ein Monitor und eine Industriekamera, erforderlich sind.

Ein weiterer Vorteil der Deflektometrie besteht darin, dass die dabei verwendete Vorgehensweise und die erzielbare Empfindlichkeit ähnlich der menschlichen Wahrnehmung sind. Dadurch sind gerade solche Oberflächenfehler gut detektierbar, die auch vom Anwender bzw. Kunden als störend empfunden werden.

Anwendungsgebiete liegen in allen Branchen, bei denen spiegelnde oder teilspiegelnde Oberflächen mit hoher geometrischer oder ästhetischer Qualität gefordert sind, z. B. in der Automobilindustrie oder in der optischen Industrie.

 

Den vollständigen Beitrag können Sie im »Handbuch zur industriellen Bildverarbeitung« (Leitfaden 17) nachlesen.