Die Anwendbarkeit optischer Messverfahren zur geometrischen Prüfung von Oberflächen hängt stark von den Reflexionseigenschaften des zu messenden Materials ab. Für optische 3D-Sensoren sind helle, matt reflektierende Oberflächen ideal. Solche kooperativen Eigenschaften sind an Bauteilen und Baugruppen in der Produktion nicht immer gegeben. Unkooperative Oberflächen sind nur mit geringerer Genauigkeit oder gar nicht optisch messbar bzw. erfordern das Aufbringen einer zusätzlichen matten Schicht vor der Messung.
Der neue, am Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik IOF, Jena, entwickelte SWIR-3D-Sensor arbeitet mit einer Wellenlänge von 1.450 nm außerhalb des zumeist verwendeten VIS (400…800 nm) oder NIR-A-Spektrums (z. B. 850 oder 950 nm). In diesem Bereich weisen viele glänzende oder tiefschwarze Materialien, z. B. ölige Metallteile, kooperativere Reflexionseigenschaften auf. Der 3D-Sensor basiert auf dem im VIS-Bereich etablierten Verfahren der Triangulation zweier Stereokameras kombiniert mit einem aktiven Musterprojektor. Da klassische Verfahren der Mustergenerierung (z. B. Digital Light Projection DLP) nicht im SWIR einsetzbar sind, wurde der SWIR-Musterprojektor basierend auf dem GOBO-Projektorprinzip entwickelt. Auch der Einsatz klassischer, siliziumbasierter Kameras ist im SWIR nicht möglich, sodass InGaAs-Sensoren eingesetzt werden.
