Das AIT Austrian Institute of Technology aus Wien stellt mit »ICI:microscopy« ein System zur simultanen mikroskopischen 2D- und 3D-Qualitätskontrolle vor. Das Inline-3D-Mikroskop liefert bis zu 60 Millionen 3D-Punkte pro Sekunde und ermöglicht so auch das schnelle Abscannen größerer Flächen. Es ist zur Inspektion kleinster Strukturen auch bei hohen Bandgeschwindigkeiten geeignet und basiert auf der am AIT entwickelten »Inline Computational Imaging (ICI)« Technologie. Diese kombiniert die Methoden Lichtfeld und Photometrie, indem sie die natürliche Transportbewegung des Objekts für die simultane Erfassung unter verschiedenen Betrachtungs- und Beleuchtungsrichtungen nutzt. Das System kann zur zuverlässigen 3D-Analyse von komplexen Geometrien und herausfordernden Oberflächeneigenschaften eingesetzt werden. Mögliche Anwendungsgebiete finden sich beispielsweise in der Elektronikfertigung, bei der Inspektion von metallischen Oberflächen oder im Verpackungs- und Sicherheitsdruck.