
Rasterelektronenmikroskopaufnahme eines Vier-Quadranten- und eines runden LWIR-Detektors
In der Forschung und Industrie werden Infrarot- und Raman-Spektrometer zur Materialanalyse und Qualitätskontrolle in hohem Maße eingesetzt. Hochsensitive IR-Detektoren stellen die Kernkomponente solcher Messsysteme dar. Insbesondere für den langwelligen Bereich bei 8 – 12 µm, in welchem eine Vielzahl chemischer Fingerabdrücke liegt, sind die flexibel auslegbaren InAs/GaSb-Übergitter-Photodioden des Fraunhofer IAF eine Alternative zu CdHgTe-Detektoren mit vergleichbarer Leistungsfähigkeit.