Fraunhofer-Gesellschaft1. Tag#
| ab 9:30 | Ankunft Besuch der Ausstellung |
| 10:30 | Begrüßung und thematische Einführung Dipl.-Ing. Michael Sackewitz, Fraunhofer Geschäftsbereich Vision, Fürth |
| 10:50 |
Innovative Verfahren zur Inspektion von industriellen Oberflächen Dr. Ronald Rösch, ITWM Fraunhofer, Kaiserslautern |
| 11:10 | Maschinelles Lernen in der Sichtprüfung Dr. Robin Gruna, Fraunhofer IOSB, Karlsruhe |
| 11:30 | Inline-Erkennung von Restverunreinigungen auf Bauteiloberflächen nach VDA 19 Andreas Hofmann, Fraunhofer IPM, Freiburg |
| 11:50 | Inspektion spiegelnder Oberflächen mit Deflektometrie Dr. Jan Burke, Fraunhofer IOSB, Karlsruhe |
| 12:10 | Formerfassung von spiegelnden Oberflächen mit inverser Deflektometrie Dr. Lars Seifert, Fraunhofer EZRT, Fürth |
| 12:30 | Mittagspause Besuch der Ausstellung |
| 13:30 | Neue Möglichkeiten interferometrischer Oberflächenmesstechnik in Produktionsumgebung Dr.-Ing. Özgür Tan, Polytec GmbH, Waldbronn |
| 13:50 | Automatisierte Defekterkennung und Klassifikation mit Fokus-Variation Christian Janko, Bruker Alicona, Graz |
| 14:10 | Markierungsfreie, fälschungssichere Identifikation in der Produktion und mit mobilen Endgeräten Dr. Daniel Carl, Fraunhofer IPM, Freiburg |
| 14:30 | Markerlose Wiedererkennung von Bauteilen am Beispiel Ersatzteillogistik Johannes Hügle, Fraunhofer IPK, Berlin |
| 14:50 | Kaffeepause Besuch der Ausstellung |
| 15:40 | Technologien zur Planung und Durchführung von optischen Inspektionsaufgaben Dipl.-Inform. Steffen Sauer, Fraunhofer IFF, Magdeburg |
| 16:00 | Optische Sensoren einfach einmessen Dr. Thomas Dunker, Fraunhofer IFF, Magdeburg |
| 16:20 | Dynamische 3D-Erfassung bewegter Objekte Dr. Peter Kühmstedt, Fraunhofer IOF, Jena |
| 16:40 | 3D-Erfassung transparenter Objekte mit langwelliger Musterprojektion Dr. Stefan Heist, Fraunhofer IOF, Jena |
| 17:00 | Get-together mit Imbiss Besuch der Ausstellung |