1. Tag
ab 10:00 | Ankunft Besuch der Ausstellung |
10:30 | Begrüßung und thematische Einführung Dipl.-Ing. Michael Sackewitz, Fraunhofer Geschäftsbereich Vision, Fürth |
10:45 | KI-basiertes akustisches Monitoring Prof. Joachim Bös, Fraunhofer IDMT, Ilmenau |
11:10 | Innovative Verfahren zur Inspektion von industriellen Oberflächen Dr. Ronald Rösch, ITWM Fraunhofer, Kaiserslautern |
11:35 | Intelligente Qualitätskontrolle von reflektierenden Oberflächen Dr. Stefan Eickeler, Fraunhofer IAIS, Sankt-Augustin |
12:00 | Maschinelles Lernen in der Sichtprüfung Dr. Robin Gruna, Fraunhofer IOSB, Karlsruhe |
12:25 | Mittagspause Besuch der Ausstellung |
13:30 | Multispektrale Analyse von Stoffströmen in Recycling-Prozessen Dipl.-Ing. Alfred Rinnhofer, JOANNEUM RESEARCH Forschungsgesellschaft mbH – DIGITAL, Graz |
13:55 | Freifall-Inspektion zur 100-Prozent-Qualitätsprüfung von Bauteilen Dr. Daniel Carl, Fraunhofer IPM, Freiburg |
14:20 | 3D-Erfassung transparenter Objekte mit langwelliger Musterprojektion Dr. Peter Kühmstedt, Fraunhofer IOF, Jena |
14:45 | Kaffeepause Besuch der Ausstellung |
15:15 | Neue Möglichkeiten interferometrischer Oberflächenmesstechnik in der Produktionsumgebung Dr.-Ing. Özgür Tan, Polytec GmbH, Waldbronn |
15:40 | Automatisierte Defekterkennung und Klassifikation mit Fokus-Variation Christian Janko, Bruker Alicona, Graz |
16:05 | Markerlose Wiedererkennung von Bauteilen am Beispiel Ersatzteillogistik Jan Lehr, Fraunhofer IPK, Berlin |
16:30 | Veranstaltungsende 1. Tag |