Bildgebende Oberflächeninspektion: Verschmutzungen und Defekte inline erkennen

Gleichzeitige Erkennung von Oberflächendefekten und Verschmutzungen
© Fraunhofer IPM

Gleichzeitige Erkennung von Oberflächendefekten und Verschmutzungen

Oberflächenfehler, die die Produktionsqualität negativ beeinflussen, können ganz unterschiedlicher Natur sein. Zur Oberflächeninspektion von Bauteilen und Halbzeugen müssen daher oft mehrere Einzelsysteme aufwändig in die Produktion integriert werden. Denn Inspektionssysteme, die Verschmutzungen zuverlässig detektieren, erkennen keine Kratzer oder Pindefekte. Umgekehrt gilt das gleiche. Fraunhofer IPM hat nun ein Inspektionssystem entwickelt, das die Oberfläche von Bauteilen sowohl auf Verschmutzungen als auch auf Oberflächendefekte vollständig inspizieren und die Ergebnisse bildgebend darstellen kann. Zu diesem Zweck wurden zwei unterschiedliche Methoden – die Dunkelfeldbeleuchtung und die Fluoreszenzmesstechnik – in ein einziges Inspektionssystem integriert. So können alle qualitätsrelevanten Oberflächenparameter von Bauteilen und Halbzeugen mit minimalem Integrationsaufwand direkt in der Produktion überwacht werden – z. B. im Automotivebereich, in der Medizintechnik und im Anlagenbau, aber auch bei Rolle-zu-Rolle Prozessen.

Die konkrete, bauteilabhängige Inspektionsaufgabe wird im realen Produktionsumfeld mit unterschiedlichen Technologieansätzen gelöst werden müssen. Dazu setzt das Fraunhofer IPM sowohl Laserscanner für die schnelle Analyse von Bauteilen mit einer Fläche von bis 50 x 50 cm² als auch Kamerasysteme zur hochaufgelösten Analyse und Erkennung verunreinigter Bereiche im µm-Bereich ein.  

Das neue bildgebende Oberflächeninspektionsverfahren von Fraunhofer IPM erkennt auf Bauteilen sowohl Oberflächendefekte wie Kratzer als auch Verschmutzungen wie Öle.
© Fraunhofer IPM, Freiburg

Das neue bildgebende Oberflächeninspektionsverfahren von Fraunhofer IPM erkennt auf Bauteilen (Foto oben) sowohl Oberflächendefekte wie Kratzer (Mitte) als auch Verschmutzungen wie Öle (unten).