Fraunhofer-GesellschaftIndividuelle Rückverfolgbarkeit von Halbzeugen - für eine bessere Qualitätskontrolle
Es ist gängige Praxis, Bauteile zur Rückverfolgung zu markieren. Im Falle kleiner und preiswerter Massenbauteile sind die meisten Verfahren jedoch zu teuer oder nicht praktikabel, da sie bestimmte Bauteilfunktionen beeinträchtigen oder das Bauteil schlicht zu klein für Markierungen ist. Eine markierungsfreie Bauteilsignatur stellt hier eine ideale Lösung zur individuellen Rückverfolgung dar. Das Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM, Freiburg, arbeitet an einem markierungsfreien Traceabilty-Verfahren, das die Oberflächenstruktur von Bauteilen als individuelles Unterscheidungsmerkmal nutzt.
Unter dem Mikroskop betrachtet weisen nahezu alle technischen Oberflächen statistisch zufällige Merkmale wie Mikrostrukturen oder Farbtexturen auf, die einmalig sind wie der Fingerabdruck eines Menschen. Das Sensorsystem, das Fraunhofer IPM gemeinsam mit der Hahn-Schickard-Gesellschaft e.V. entwickelt, nimmt definierte Bereiche der Bauteiloberfläche hochaufgelöst mit einer Industrie-Kamera auf. Aus den Bildinformationen mit ihren spezifischen Strukturverläufen und deren Position zueinander wird eine numerische Kennung errechnet und in einer Datenbank hinterlegt. Zur späteren Identifizierung wird der gesamte Vorgang wiederholt. Stimmen die Kennungen überein, so handelt es sich um das gesuchte Bauteil. Der Sensor ist so ausgelegt, dass eine große Bandbreite an Materialien – von glatten Kunststoffen über präzisionsbearbeitetes Aluminium, Eisenguss bis hin zu lackierten Oberflächen – mit ein und derselben Hardware im Produktionstakt erfasst werden kann.
