Mittwoch, 27. November 2024
9:00 – 17:00 Uhr
Theoretische Grundlagen und Methoden
ab 8:30 | Ankunft und Begrüßung |
9:00 - 9:15 | Einführung in das Seminar Dipl.-Ing. Michael Sackewitz, Fraunhofer-Geschäftsbereich Vision, Fürth |
9:15 - 9:40 | Bildgewinnung bei der Oberflächenprüfung Prof. Dr.-Ing. Thomas Längle, Fraunhofer IOSB, Karlsruhe Bedeutung der Bildgewinnung für leistungsfähige und robuste automatische Inspektionssysteme – Bildaufnahme als Engineering-Aufgabe – Beleuchtungs- und Aufnahmetechniken |
9:40 - 10:05 | Lichtfeld-Technologien Christian Kludt, Fraunhofer IOSB, Karlsruhe Lichtfeldbeleuchtung mittels Lichtfeldemitter – objektspezifisches Lichtfeld – Lichtfelderfassung mittels Lichtfeldkamera – erweiterte Schärfentiefe – synthetische Fokus-Verschiebung |
10:05 - 10:35 | Typischer Aufbau und Beispiele für Algorithmen von Oberflächeninspektionssystemen Dr. Henrike Stephani, Fraunhofer ITWM, Kaiserslautern Oberflächeninspektionssysteme – Aufbau – Komponenten – Systemsoftware – Schnittstellen – Modularität – Anwendung |
10:35 - 11:10 | Theorie und Methoden der Farbmessung Dr. Robin Gruna, Fraunhofer IOSB, Karlsruhe Photometrie – Lichtquellen – Farbe als Sinneswahrnehmung – Farbe vs. Spektrum – Messung von Farbe und Spektrum – Farbvalenzen – Farbwerte – Farbräume |
11:10 - 11:40 | Pause |
11:40 - 12:10 | Spektroskopische Charakterisierung von Oberflächen mit Zeilenspektroskopie Dr.-Ing. Jochen Aderhold, Fraunhofer WKI, Braunschweig Grundbegriffe – Messprinzipien – Zeilenspektrographie – Hauptkomponentenanalyse – Klassifikationsverfahren – mögliche Anwendungen, z. B. Altholzsortierung bzw. Recycling |
12:10 - 13:00 | 3D-Messungen an Oberflächen Prof. Dr.-Ing. Michael Heizmann, Fraunhofer IOSB, Karlsruhe Szenenmodellierung – photometrisches Stereo – strukturierte Beleuchtung – Streifenprojektion – Deflektometrie – Depth from Focus |
13:00 - 14:00 | Mittagspause |
14:00 - 14:45 | Oberflächenmesstechnik zur Charakterisierung von Mikro- und Nanostrukturen Caroline Girmen, M.Sc., Fraunhofer IPT, Aachen Messverfahren (Rasterkraftmikroskopie, Weißlichtinterferometrie, konfokale Mikroskopie, Fokusvariation usw.) – Auswertemethoden – Anwendungsbeispiele |
14:45 - 15:30 | Texturelle und strukturelle Analyse von Oberflächen Prof. Dr.-Ing. Michael Heizmann, Fraunhofer IOSB, Karlsruhe Texturtypen – Texturmodelle – Texturmerkmale – typspezifische Texturanalyse – Detektion von Texturfehlern – Schätzung von Texturparametern – Radontransformation |
15:30 - 16:00 | Pause |